TEST COMPATIBILITA’ ELETTROMAGNETICA

Test di immunità alle radio frequenze irradiate

Viene testata l’immunità dell’elettronica sottoponendola a frequenze fino a 2 GHz. Nell’ambiente operativo questi campi elettromagnetici possono essere generati da dispositivi esterni, come ad esempio telefoni cellulari o cordless.

Un’elettronica non immune da questi disturbi può presentare malfunzionamenti generali e letture errate dei segnali provenienti da sonde analogiche.

Test di immunità alle radio frequenze condotte sui cavi

Si verifica l’immunità alle iniezioni di segnali in radio frequenza sull’alimentazione o sui cavi di segnale. Questa prova simula l’interferenza provocata ad esempio dal funzionamento di inverter o di altre schede elettroniche.

Normalmente questi disturbi vanno a falsare la lettura di grandezze analogiche (come temperatura umidità e pressione) andando ad interferire con il corretto funzionamento del sistema.

Test ESD

Test di immunità alle scariche elettrostatiche generate da un apposito strumento. Il corpo umano o materiali isolanti possono accumulare cariche elettrostatiche che, al contatto con i pannelli metallici della macchina, possono provocare scariche elettriche nocive al corretto funzionamento dell’elettronica.

Queste scariche infatti, possono portare alla cancellazione dei parametri di funzionamento, malfunzionamenti del display o, in alcuni casi, rotture di parte dei circuiti integrati.

Prove di Burst

Viene simulata l’accensione o lo spegnimento di carichi induttivi (motori, teleruttori, relè) iniettando disturbi direttamente nel cavo di alimentazione o nei cavi per la comunicazione dei segnali.

Prove di Surge

Vengono inviati al prodotto impulsi ad alta energia. Questa prova simula ad esempio la scarica di un fulmine in prossimità dell’impianto elettrico di alimentazione, oppure eventuali fault di macchine di grandi dimensioni che lavorano sulla stessa rete.

Test di emissione di radio frequenze condotte sui cavi di alimentazione

Si misurano le radio frequenze emesse dall’elettronica sul cavo di alimentazione.

Test di irregolarità dell'alimentazione

Prove di immunità a buchi di tensione, brevi interruzioni e variazioni di tensione di alimentazione. Il verificarsi di questi eventi può portare a malfunzionamenti dell’elettronica, perdita di dati e parametri di funzionamento.

L’elettronica Micro Systems viene concepita per essere immune a questi danni e riprendere correttamente il funzionamento, una volta ripristinata la tensione di alimentazione.

Test di emissione di radio frequenze irradiate

Viene valutata l’emissione di radio frequenze nell’aria da parte dell’elettronica.

TEST TERMICI

Test in Camera Climatica

Per verificare la resistenza dei nostri prodotti ad ogni condizione ambientale vengono svolti ulteriori test all’interno di una camera climatica, la quale li sottopone a temperature che possono andare da -20°C a +70°C con umidità da 10 a 90%.

Termocamera ad infrarossi

Le temperature di esercizio dei vari componenti disposti sulla scheda influiscono sulla vita media degli stessi.

Temperature troppo elevate possono ridurre significativamente la durata dei componenti e compromettere l’affidabilità generale.

Attraverso l’analisi termografica si evidenziano gli elementi del sistema sottoposti a temperature di esercizio più elevate. Successivamente valutando il progetto della scheda in esame, si controlla che tali valori di temperatura siano all’interno del range operativo previsto.

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